2 x 60 mm2
SDD 面积
双硅漂移探测器，可快速获取样品元素信息
100-500 μm
可调节光斑大小
五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品
80 x 60 cm2
可扫描面积
单次面扫描最大面积
最先进的大面积微区XRF元素成像技术
微区XRF（也称为macroXRF或MA-XRF）分析，已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架，使得M6 JETSTREAM 可在现场使用，无需将部分无法运输样品送至实验室检测。
垂直样品或水平表面的测量
单次描面积高达 800 x 600 mm2
"On the fly"分析，以达到最高的面扫描速度
可调节光斑大小以匹配样品尺寸
XFlash® SDD 技术，具有2 x 60 mm2 的探测器面积
可选 AMS 系统， 以对不平整表面聚焦
M6 JETSTREAM 能够帮您获得那哪些信息？
获取任意平面内元素的空间分布信息
在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
将高分辨率光学图像与光谱存储在一个" HyperMap "数据集中
从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
使用无标准基本参数 （FP） 方法定量分析光谱数据
设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏
