RMC

用于研究的高分辨率显微镜，包括透射电子显微镜（TEM），扫描电子显微镜（SEM），原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜和傅里叶变换红外光谱（FTIR），需要以纳米尺度成像的样品。超薄切片机用于切割允许这样做的超薄部分。这类切片机可以产生从几到150纳米厚度的样品。