1.5 纳米

有效的空间分辨率

独特的同轴 TKD 提供最佳的样品-探测器几何构型，从而实现无与伦比的性能

125,000 Pps

超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像

无与伦比的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像

2 nA

测试所需的最大电流

同轴 TKD 可实现低探头电流测试，且不影响测试速度和数据质量

具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的最佳解决方案。原因如下：

提供 1.5 nm 的最佳空间分辨率

在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯一 TKD 解决方案

全自动内置 ARGUS 成像系统

为什么我需要同轴 TKD？

实现最佳空间分辨率

SEM 中获取取向分布图和物相分布图

用于快速测试，同时不影响数据质量/完整性

以令人难以置信的速度，通过全自动信号优化，以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像

可使用低电流分析束流敏感材料。